镀层测厚仪,MAXXI系列,X-Ray测厚仪,镀金测厚仪

型号

MAXXI  5

MAXXI  5  PIN

备注

测量元素范围

Ti²²---U⁹²

镀层和成分分析

Ø         镀层：最多同时测定5层（4层镀层+基体材料）

Ø         成分：最多同时测量20种元素

测量方法

Ø         FP（经验数据法），无需标准样片

X射线激发

Ø         50Kv、1.2mA(60W)高压发生器

Ø         微聚焦W靶X射线管

成像系统

Ø         彩色视频系统

Ø         20倍放大倍数

Ø         被测样品图像实时显示功能

Ø         电脑显示屏具有画中画功能

计算机系统

Ø         Inter Pentium G2030，内存2G，硬盘500G

Ø         17吋液晶彩色显示器

Ø         Microsoft^TM  Win7 32bit

样品台规格

Ø         X-Y手动样品台：600×600mm，最大承重25Kg，最大样品高度175mm或350mm可调

Ø         X-Y程控样品台：X-Y台面尺寸300×250mm，最大承重5Kg，最大样品高度180mm，程控距离X=300mm、Y=250mm

仪器外形

长×宽×高700×770×700mm（不含电脑、显示器）

最大样品

Ø         X-Y手动样品台：长×宽×高600×500×350mm

Ø         X-Y程控样品台：长×宽×高600×500×180mm

程控Z轴移动距离

≤180mm，可使用鼠标或手柄控制

主机重量

90Kg（不含电脑、显示器）

准直器规格

Ø         可选单准直器、多准直器

Ø         多准直器程控交换

Ø         可选园形、矩形准直器

Ø         单准直器任选：Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm

Ø         多准直器选项：①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm

Ø         可选单准直器、多准直器

Ø         多准直器程控交换

Ø         可选园形、矩形准直器

Ø         单准直器任选：Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm

Ø         多准直器：Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm

探测器

正比例计数器

25mm²半导体（Si-PIN）探测器，Peltier电制冷

软件模块可选

μ-Master用于镀层测量

Element--Master用于材料分析

%-Master用于材料分析（珠宝）

Report-Master用于微软报告文件

Data-Master用于数据库管理

Liquid-Master用于电镀液分析

产地

德国